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    測厚儀

    測厚儀

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    SPI-10iD 2D錫膏厚度檢測儀

    圖片2.png

    工作原理:

    非接觸式激光測厚儀是由專用激光器產生線型光束,以45°由側面投射,較高之物件(錫膏)首先被鐳射投影到,其次在投影到較低之基板平面,如此即形成兩條垂直光線,因為待測目標與周圍基板存在高度差,此時觀測到的目標和基板上的激光束相應出現斷續落差(如圖1-1所示)根據三角函數關系可以通過該落差間距計算出待測目標截面與周圍基板的高度差,從而實現非接觸式的快速測量。

    圖片1.png

     

    規格參數:

    項目

    參數

    相機

    320萬,200萬(可選)

    解析度

    5μm,10μm

    重復測量精度

    ≤0.003mm

    測量范圍

    0.002mm-2mm

    檢測方式

    半導體激光器

    量塊精度

    ±0.03μm(檢測報告)

    光源

    高亮度LED

    電源

    AC220V-240V,50/60Hz

    統計報表

    X-Bar Range Cp,Cpk,整體統計分析

    檢測原理

    非接觸式激光檢測

    電腦

    Acer 主機,19寸寬屏顯示器

    尺寸/重量

    420*410*310mm,30Kg


    功能:

    /英 圖文界面操作

    測量高度、圓周、直徑、間距、面積、體積

    適應不同厚度的PCB板上的錫膏厚度測量

    提供X-BAR,range管制圖

    提供CP,CPK管制圖

    NG/OK比例圖表

    測量數據自動存儲,存檔

    數據導出TXT / EXCEL格式

    提供時間段的SPC數據分析、存儲、打印

    軟件優勢:

    自動區分OK / NG數據

    自動/手動生成位號

    可根據需要調取某一時間段的數據生成SPC圖表

    SPC圖表、數據整體打印功能

    測量數據提供多種保存方法

    操作簡單

    測量數據準確

    可根據客戶的需求改進軟件的功能


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